行業(yè)新聞|2023-11-09|admin
[敏感詞]由ICT檢測(cè)設(shè)備廠家為大家分析ICT測(cè)試盲點(diǎn)的原因。?
1.當(dāng)電阻與跳線并聯(lián)時(shí)，無法測(cè)量電阻
2.無法測(cè)量與跳線并聯(lián)的電感（或變壓器，繼電器）。
3.電感的錯(cuò)誤部分是跳線或短路，無法測(cè)試。
4.小型電容器與小型電阻器并聯(lián)連接，無法測(cè)量小型電容器。
5.電感與電阻器或電容器及其他組件并聯(lián)連接。電阻或其他組件無法測(cè)量。
6.二極管以相同方向并聯(lián)連接，并且檢測(cè)不到缺失的部件之一或空焊。
7.不能測(cè)量與小電阻并聯(lián)組件并聯(lián)的組件。
8.電容器的電容太小，測(cè)試通常不準(zhǔn)確。
9.IC，晶體振蕩器，可調(diào)電阻器（VR），熱敏電阻，浪涌吸收器和其他組件的內(nèi)部性能無法測(cè)量或無法準(zhǔn)確測(cè)試。
10.二極管和晶體管與大電容器并聯(lián)連接，無法測(cè)量二極管和晶體管。
11.組件的高低點(diǎn)在同一個(gè)短路組中，并且這些組件不可測(cè)試。
12.在IC空焊測(cè)試過程中，如果被測(cè)IC的引腳和電容器并聯(lián)連接，則該引腳如果斷開則不能進(jìn)行測(cè)試。
13.小電容器與大電容器（C1//C2）并聯(lián)連接，無法測(cè)量小電容器。一般來說，C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預(yù)測(cè)的。
題-1.jpg)
題-3.jpg)
