會(huì)社のニュース|2022-03-31|admin
七種PCB測(cè)試
1. 在線測(cè)試在線測(cè)試 (ICT) 是現(xiàn)有最真實(shí)的 PCB測(cè)試典型。高價(jià)反應(yīng)了這一點(diǎn)——數(shù)萬美元，但本錢將在于于通路板和卡具尺寸等成分。
ICT，也稱為針床測(cè)試，可啟用并啟用通路板上的各個(gè)通路。在大普遍情景下，該測(cè)試旨在實(shí)行 100% 的掩蓋率，但您會(huì)逼近 85-90% 的掩蓋率。ICT 的長處在乎您贏得的 85-90% 實(shí)足沒有報(bào)酬缺點(diǎn)。
該測(cè)試波及運(yùn)用以與 PCB 安排相配合的辦法安置的恒定探針。探針查看焊接貫穿的完備性。釘床測(cè)試儀只需將通路板向下推到探針床上即可發(fā)端測(cè)試。有在板預(yù)先安排的接入點(diǎn)，它承諾ICT測(cè)摸索針與通路貫穿。她們對(duì)貫穿強(qiáng)加了確定的壓力，以保證它維持完備。
ICT 常常在更大的貫穿和球柵陣列 (BGA) 上實(shí)行。
此測(cè)試對(duì)準(zhǔn)“老練”產(chǎn)物，估計(jì)簡直沒有訂正。即使您沒有將可創(chuàng)造性安排動(dòng)作目的的一局部，而且板上有符合的焊盤，則您大概沒轍運(yùn)用在線測(cè)試。悲慘的是，您沒轍變換辦法并在消費(fèi)半途轉(zhuǎn)向 ICT 策略。
2. 飛針測(cè)試
飛針測(cè)試是一種久經(jīng)檢驗(yàn)的采用，比在線測(cè)試廉價(jià)。這是一種無能源典型的測(cè)試，用來查看：
翻開
長褲
制止性
庫容
電子感應(yīng)
二極管題目
該測(cè)試經(jīng)過在從基礎(chǔ) CAD 贏得的 xy 網(wǎng)格上運(yùn)用貫穿到探針的針來舉行。您的 ECM 步調(diào)舉行融合以配合通路板，而后運(yùn)轉(zhuǎn)該步調(diào)。
咱們提出飛針與 ICT是一個(gè)罕見的比擬。每個(gè)都有便宜和缺陷。
在某些情景下，ICT 無需運(yùn)用飛針測(cè)試，但 PCB 的安排必需符合測(cè)試卡具——這表示著更高的初始本錢。與飛針測(cè)試比擬，ICT 不妨更快且不易墮落，所以您大概會(huì)創(chuàng)造特殊的本錢是犯得著的。固然飛針嘗試首先大概更廉價(jià)，但對(duì)于大訂單來說，它本質(zhì)上大概不太合算。
結(jié)果要指示一句：PCB 飛針測(cè)試不會(huì)為通路板供電。
3. 機(jī)動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)和測(cè)定 (AOI)
AOI運(yùn)用單個(gè) 2D 相機(jī)或兩個(gè) 3D 相機(jī)拍攝 PCB 的像片。而后，步調(diào)會(huì)將通路板的像片與精細(xì)的道理圖舉行比擬。即使生存與道理圖在確定水平上不配合的通路板，則該通路板會(huì)被標(biāo)志以供本領(lǐng)職員查看。
AOI 可用來趁早創(chuàng)造題目以保證盡量封閉消費(fèi)。然而，它不會(huì)為通路板供電，而且大概沒轍 100% 掩蓋一切元件典型。
切勿僅依附機(jī)動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)和測(cè)定。AOI 應(yīng)與其余測(cè)試貫串運(yùn)用。咱們最愛好的少許拉攏是：
AOI 和飛針
AOI 和在線測(cè)試 (ICT)
AOI 和功效測(cè)試
4. 老化測(cè)試
望文生義，老化測(cè)試是對(duì) PCB 的一種更激烈的測(cè)試。它旨在檢驗(yàn)和測(cè)定早期妨礙并創(chuàng)造負(fù)載本領(lǐng)。因?yàn)槠鋸?qiáng)度，老化測(cè)試大概會(huì)妨害被測(cè)元件。
老化測(cè)試經(jīng)過您的電子擺設(shè)激動(dòng)風(fēng)力，常常是在其[敏感詞]指定含量。電源經(jīng)過通路板貫串運(yùn)轉(zhuǎn) 48 至 168 鐘點(diǎn)。即使股東會(huì)波折，則稱為嬰孩犧牲率。對(duì)于軍事或調(diào)理運(yùn)用，嬰孩犧牲率高的通路板明顯不是理念的。
老化測(cè)試并不實(shí)用于每個(gè)名目，但在某些場(chǎng)合它很有意旨。它不妨在產(chǎn)物達(dá)到存戶之前提防為難或傷害的產(chǎn)物頒布。
請(qǐng)記取，老化測(cè)試會(huì)減少產(chǎn)物的運(yùn)用壽命，更加是當(dāng)測(cè)試使您的通路板接受比額定值更大的壓力時(shí)。即使創(chuàng)造的缺點(diǎn)很少或沒有創(chuàng)造，則不妨在較短的功夫內(nèi)貶低測(cè)試控制，以制止 PCB 接受過大的壓力。
5. X 射線查看
也稱為 AXI，這種典型的“測(cè)試”本質(zhì)上更像是一種查看東西，起碼對(duì)于大普遍 ECM 而言。
在此測(cè)試功夫，X 射線本領(lǐng)職員不妨經(jīng)過察看以次實(shí)質(zhì)在創(chuàng)造進(jìn)程中趁早定位缺點(diǎn)：
焊接貫穿
里面陳跡
桶
有 2D 和 3D AXI 測(cè)試，3D 供給更快的測(cè)試周期。
X 射線測(cè)試不妨查看常常湮沒在視野除外的元素，比方貫穿和球柵陣列封裝，在芯片封裝下方具備焊點(diǎn)。縱然此查看特殊有效，但它真實(shí)須要過程培養(yǎng)和訓(xùn)練且體味充分的操縱員。
另請(qǐng)?zhí)岱溃?ECM 不確定運(yùn)用 X 光機(jī)查看通路板的每一層。簡直，咱們不妨看頭通路板來檢驗(yàn)和測(cè)定里面缺點(diǎn)，但這是一個(gè)特殊耗費(fèi)時(shí)間且高貴的進(jìn)程（對(duì) ECM 和存戶而言）。
6. 功效測(cè)試
有些存戶真實(shí)愛好好的、舊式的功效測(cè)試。您的 ECM 運(yùn)用它來考證產(chǎn)物能否會(huì)回電。
這個(gè)測(cè)試真實(shí)須要少許貨色：
外部擺設(shè)
燈具
UL、MSHA 和其余規(guī)范的訴求
該功效測(cè)試及其參數(shù)常常由存戶供給。少許 ECM 不妨扶助開拓和安排如許的測(cè)試。
這真實(shí)須要功夫。即使您想趕快將產(chǎn)物推出商場(chǎng)，這大概不是您的[敏感詞]采用。但從品質(zhì)和壽命的觀點(diǎn)來看，功效測(cè)試不妨保場(chǎng)面和便宜。
按照簡直情景，再有其余典型的功效測(cè)試可用來查看您的 PCB。
PCB 功效測(cè)考查證 PCB在產(chǎn)物最后運(yùn)用情況中的動(dòng)作。功效測(cè)試、其開拓和步調(diào)的訴求大概因 PCB 和最后產(chǎn)物而異。
其余 PCB 組建測(cè)試典型囊括：
可焊性測(cè)試：保證外表堅(jiān)忍并減少產(chǎn)生真實(shí)焊點(diǎn)的時(shí)機(jī)
PCB 傳染測(cè)試：檢測(cè)可能污染電路板、導(dǎo)致腐蝕和其他問題的大量離子
顯微切片分析：調(diào)查缺陷、開路、短路和其他故障
時(shí)域反射計(jì) (TDR)：查找高頻板故障，
剝離測(cè)試：找出從板上剝離層壓板所需的強(qiáng)度度量
浮焊測(cè)試：確定 PCB 孔可以抵抗的熱應(yīng)力水平
功能性PCB測(cè)試的優(yōu)勢(shì)包括：
模擬操作環(huán)境，[敏感詞]限度地降低客戶成本
可以消除對(duì)昂貴的系統(tǒng)測(cè)試的需要
可以檢查產(chǎn)品功能——從 50% 到 100% 的發(fā)貨產(chǎn)品，您需要檢查和調(diào)試它
與其他測(cè)試完美搭配，例如 ICT 和飛針
非常適合檢測(cè)不正確的組件值、功能故障和參數(shù)故障。
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